Hanwa HED-S5000R全自動HBM/MM/Latch-up測試機（256pin）
Hanwa HED-W5000M晶圓級HBM/MM/HMM測試儀
Hanwa HED-T5000高性能TLP
Hanwa HED-C5000R全自動CDM測試儀
Hanwa-HED-G5000全自動HBM/MM/Latch-up測試機
Hanwa HCE-5000小型便攜ESD測試儀
HPPI TLP
開循環極低溫探針臺 閉循環極低溫探針臺 閉循環磁場探針臺 低溫磁場探針臺 ICE低溫恒溫器 磁場產品
MPI手動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI半自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI高功率全系列直流射頻晶圓級探針臺 MPI全自動分選機 MPI 測試系統選件 MPI全系列測試耗材 MPI全系列Celadon探卡 高低溫樣品臺（卡盤）
酸/激光開封機 臺階儀 熱流儀 Vcsel光電測試系統 OKMETIC先進硅基襯底 EMMI微光顯微鏡系列 Hitachi日立掃描電子顯微鏡
R&S 羅德斯瓦茨 測試儀表 振動樣品磁強計 VSM Farran毫米波系統
PCB手動探針臺 PCB半自動探針臺 PCB全自動探針臺
英鉑實驗室測試中心現有測試類型：直流測試、射頻測試、
高壓大電流測試、光電測試、極低溫磁場測試、ESD/TLP測試、PCB板級測試等
信號完整性（Signal Integrity）SI是指信號在信號線上的質量，即信號在電路中以正確的的時序和電壓做出響應的能力。如果電路中的信號能夠以要求的時序、持續時間和電壓幅度到達接收器，則可確定電路具有良好的信號完整性，反之，信號則出現信號完整性的問題。
其中PCB電路損耗與阻抗等電參數是會影響PCB電信號的傳輸，造成時序與幅度等失真，從而影響電路信號完整性，因此，準確的測試特性阻抗以及插入損耗信號表征的重要手段。
英鉑科學儀器可以提供針對雙面PCB探針臺，阻抗與損耗測試，超高頻汽車雷達，衛星通信，高速光電的PCB探針臺，依托于高度定制化的PCB夾具，高靈活性探針座，雙面校準臺，雙高清CCD成像系統等提供精確的電極固定對準。MPI高頻高精度射頻探針最高支持110GHz的射頻測試能力并提供支持TRL、SOLT、TMRR等先進校準方式，從而出色地表征插入損耗以及特性阻抗。
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